Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения

• Автор: Жу У.
• Издательство: Бином. Лаборатория знаний
• Серия: Нанотехнологии
• Год издания: 2019
• Обложка: твердый переплет
• Страниц: 576
• Томов: 1
• Вес: 676 г.
• ISBN: 978-5-9963-1110-1

Описание

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанобъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям.
Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур.
Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.

Товар прошел сертификацию качества и безопасности. На любую покупку распространяется гарантия. Реализована накопительная система скидок, зависящая от объема прежних покупок. Быстрая доставка курьером или в пункт выдачи в срок от 1 дня. Подробную информацию о сроках доставки и скидке можно будет узнать во время оформления заказа. Приятных покупок.