Электронные измерения в нанотехнологиях и микроэлектронике

• Автор: А. А. Афонский
• Издательство: ДМК Пресс
• Год издания: 2011
• Обложка: мягкая обложка
• Страниц: 688
• Томов: 1
• Вес: 1074 г.
• ISBN: 978-5-94074-626-3

Описание

Эта книга будет изготовлена в соответствии с Вашим заказом по технологии Print-on-Demand.
Первая в России книга по самым современным электронным электро- и радиоизмерениям и измерительным приборам, применяемым в научных исследованиях, тестировании и испытании устройств и систем микроэлектроники и нанотехнологий. Впервые подробно описаны средства измерений, применяемые в условиях крупносерийного микроэлектронного производства, и приборы ведущих в их разработке и производстве фирм: Keithley, Tektronix, Agilent Technologies, LeCroy, R&S и др. Особое внимание уделено анализу и генерации тестовых сигналов, измерению их параметров в области малых и сверхмалых времен, измерению сверхмалых токов и напряжений, анализу импеданса и иммитанса цепей, измерениям статических и динамических характеристик полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и др. Является самым крупным обзором современных зарубежных и отечественных измерительных приборов на рынке России и мира. Для инженеров, научных работников, аспирантов, преподавателей и студентов вузов и университетов технического и классического типов.

Товар прошел сертификацию качества и безопасности. На любую покупку распространяется гарантия. Имеется накопительная система скидок, зависящая от объема заказов, совершенных ранее. Быстрая доставка курьером или в пункт выдачи в срок от 1 дня. Детальную информацию о сроках доставки и размере скидки можно будет прочесть на этапе оформления заказа. Приятных покупок.