LabVIEW. Практикум по основам измерительных технологий

• Автор: В. К. Батоврин
• Издательство: ДМК Пресс
• Год издания: 2010
• Обложка: мягкая обложка
• Страниц: 232
• Томов: 1
• Вес: 632 г.
• ISBN: 978-5-94074-498-6

Описание

Эта книга будет изготовлена в соответствии с Вашим заказом по технологии Print-on-Demand.
Второе издание практикума по основам измерительных технологий посвящено вопросам обработки и представления результатов измерений, а также методам и средствам измерений электрических и неэлектрических величин. Выбор этих разделов обусловлен тем, что с ними чаще всего приходится сталкиваться в учебной и производственной практике. Ядром практикума является комплекс прикладных программ, созданный в инструментальной среде разработки приложений LabVIEW, благодаря чему лабораторные работы могут выполняться как в учебной лаборатории в рамках традиционно организованного учебного процесса, так и на собственном компьютере во время самостоятельной работы в библиотеке или дома. Основное отличие от первого издания заключается в расширении перечня работ за счет введения главы по измерениям неэлектрических величин, а также представлении работ в виде исполняемых приложений для операционной системы Windows XP/Vista.

Товар сертифицирован и соответствует нормам качества, безопасности и гигиены. Действует гарантийное обязательство. Предлагается накопительная система скидок, зависящая от объема совершенных ранее покупок. Быстрая доставка курьером или в пункт выдачи в срок от 1 дня. Исчерпывающую информацию о сроках доставки и величине скидки можно будет узнать на этапе оформления заказа. Приятных покупок.