Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для СПО

• Автор: Суворов Э.В.
• Издательство: Юрайт
• Серия: Профессиональное образование
• Год издания: 2020
• Обложка: твердый переплет
• Страниц: 272
• Томов: 1
• Вес: 370 г.
• ISBN: 978-5-534-11822-3

Описание

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. Для студентов среднего профессионального образования.

Товар прошел сертификацию качества, безопасности и гигиены. Действует гарантийное обязательство. Предоставляется накопительная система скидок, зависящая от объема предыдущих покупок. Быстрая доставка курьером или в пункт выдачи в срок от 1 дня. Исчерпывающую информацию о сроках доставки и величине рассчитанной скидки вы сможете прочесть на странице оформления заказа. Приятных покупок.