Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для академического бакалавриата

• Автор: Суворов Э.В.
• Издательство: Юрайт
• Серия: Бакалавр. Академический курс
• Год издания: 2020
• Обложка: твердый переплет
• Страниц: 272
• Томов: 1
• Вес: 370 г.
• ISBN: 978-5-534-09995-9

Описание

В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. Содержание учебного пособия соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта высшего образования. Для студентов высших учебных заведений, обучающихся по инженерно-техническим и естественнонаучным направлениям.

Товар сертифицирован и соответствует нормам качества и безопасности. На любую покупку распространяется гарантия. Имеется накопительная система скидок, зависящая от объема совершенных ранее заказов. Быстрая доставка курьером или в пункт выдачи в срок от 1 дня. Детальную информацию о сроках доставки и скидке вы сможете узнать в ходе оформления заказа. Приятных покупок.